Поиск книг, содержащих Secondary ion mass spectrometry (SIMS) :: Электронная библиотека попечительского совета мехмата МГУ

Мехматянам

Первый курс

square

Второй курс

square

Третий курс

square

Авторизация

Поиск по указателям

Результат поиска

Поиск книг, содержащих: Secondary ion mass spectrometry (SIMS)

Книга	Страницы для поиска
Czanderna, Madey, Powell — Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis (Methods of Surface Characterization)	102, 103, 202, 357, 397, 401—103, 408—411
Herbert C.G., Johnstone R.A.W. — Mass Spectrometry Basics	17, 260
Plummer J.D., Deal M.D., Griffin P.B. — Silicon VLSI Technology: Fundamentals, Practice, and Modeling	117, 175, 176, 396, 397, 733

О проекте