Главная    Ex Libris    Книги    Журналы    Статьи    Серии    Каталог    Wanted    Загрузка    ХудЛит    Справка    Поиск по индексам    Поиск    Форум   
blank
Авторизация

       
blank
Поиск по указателям

blank
blank
blank
Красота
blank
Johnson K., Lark-Horovitz V.A. — Methods of Experimental Physics Solid State Physics (Volume 6/PartA)
Johnson K., Lark-Horovitz V.A. — Methods of Experimental Physics Solid State Physics (Volume 6/PartA)



Обсудите книгу на научном форуме



Нашли опечатку?
Выделите ее мышкой и нажмите Ctrl+Enter


Название: Methods of Experimental Physics Solid State Physics (Volume 6/PartA)

Авторы: Johnson K., Lark-Horovitz V.A.

Язык: en

Рубрика: Физика/

Статус предметного указателя: Готов указатель с номерами страниц

ed2k: ed2k stats

Год издания: 1964

Количество страниц: 466

Добавлена в каталог: 23.03.2008

Операции: Положить на полку | Скопировать ссылку для форума | Скопировать ID
blank
Предметный указатель
Okkerse, B.      369 371(24)
Olney, M.J.      152(71) 174
Olsen, K.M.      59 93
Olsen, L.O.      123 182
Optical determination of crystal orientation      160—163
Optical measurements at high pressures      430—432
Orientation etching, sample preparation      162
Ornstein, L.S.      247
Orowan, E.      309 311 313
Oster, G.      245
Otsuka, E.      356
Overhauser, A.W.      363
Overholser, L.G.      27
Owen, E.A.      237
Oxidation and reduction      24
Oxide film replica technique      179—180
Oxide glasses, composition and batch calculations      143—144
Oxide glasses, melting      144—146
Oxide glasses, procedures for making in laboratory      143—147
Oxide glasses, raw materials      143
Oxide glasses, Sample forming and annealing      146—147
Oxide glasses, sample inspection      147
Oxide glasses, supplementary procedure      147
Oxide glasses, viscosity-temperature data      145
O’Bryan, H.M.      123
O’Neill, H.      307 309(34)
p.d      see “Parent distribution”
Pahl, W.      154(28) 173
Palmer, W.      363
Pankove, J.I.      64 68
Pankow, G.      348
Paramagnetism      18
Parent distribution      3
Parker, E.R.      317 321 340
Parkinson, D.H.      378
Parrish, W.      217 219 220 221
Particle size      241—244
Pashley, D.W.      348
Paterson, M.S.      243
Patrick, L.      411 417 429
Patterson method in X-ray diffraction      232—233
Patterson, A.L.      224 226 233 236
Paul, W.      430 437
Pauling, L.      236
Pearlman, N.      377 378
Pearson, C.E.      319
Pearson, G.L.      64 83 372
Pearson, J.      313
Peck, Y.G.      179
Pepinsky, R.      234 237
Peretti, E.A.      152(65) 174
Periodic heat flow      399—402
Perry, C.C.      292
Perry, E.S.      26
Peters, C.G.      307 308(37) 309(37)
Peterson, E.L.      436
Petrauskas, A.A.      90
Petretzky, P.B.      24
Pfann, W.G.      25 26 28 45 48 49(11) 50 51(11) 55 56 58 59 60 61 63 64 68(63) 69 71 93 97 98 107 163(128) 165(142) 171(128 135) 176 340
Pfeil, L.B.      118
Phase charges under high pressures      421—423
Phase problems in X-ray diffraction      231—234
Phillips, A.B.      84 85
Phillips, D.C.      225 238(61)
Photoelectric phenomena      20
Picard, R.G.      182 265 266(54) 271(54)
Pick, H.      131 291
Pickels, E.G.      26
Piezoelectric excitation of oscillation      305—306
Pigg, J.C.      361
Pinching, G.D.      28
Pinhole collimator      220
Pinhole transmission method      221
Pinner, R.      152(43) 173
Pinsker, Z.G.      246 248 257 258 264 274
Piper, W.W.      113
Pizzarello, F.      113
Plakhov, A.G.      183
Plastic replica technique      177—179
Plasticity of solids      309—321
Ploos van Amstel, J.J.A.      185
Pluecker, J.      129
Podbielniak, W.      22
Pohl, R.G.      47 95
Point projection microscope      185—186
Poisson ratio      297
Polanyi apparatus      318
Polanyi, M.      241 318
Polishing methods      151—153
Polishing methods, chemical      151
Polishing methods, electrolytic      151
Polishing methods, mechanical      151
Polishing, guide to literature      152
Polk, M.L.      25
Polling, J.J.      152(34) 158(34) 173
Polycrystalline materials, preferred orientation      240—241
Polycrystalline specimen diffraction pattern      276—278
Polygonization      339—340
Pomp, A.      318
Pond, R.B.      121 332
Pondrom, W.L.      302
Porod, G.      245
Portnoy, VV.      368
Potter, H.H.      152(35) 158(35) 173
Poulter window      431
Poulter, T.C.      430 431
Powder crystals, standard photographic methods      214—217
Powell, C.F.      132
Powell, R.W.      393
Prang, W.      290
Pray, H.A.H.      152(47) 173
Precipitation      22
PRECISION      2
Precision grinder      368—369
Preparation of laboratory glass samples      139—147
Pressure gage, secondary      415—417
Pressure generation      407—4li
Pressure measurement      414—417
Pressure system for 0-15000 bars      408—411
Pribil, R.      23
Price, W.J.      307
Prim, R, C.      45 47(19) 48(19) 62(19) 66 69(19) 70
Primakoff, H.      3 5(3)
Prince, E.      303
Prince, M.B.      83
Prins, J.      244
Prismatic dislocation      328—329
Purcell, E.M.      429 430
Purification by freezing methods      48—55
Purification of materials, case histories compounds      28
Purification of materials, case histories compounds, metals      27
Purification of materials, case histories compounds, semiconductors      28
Purification, general methods      21
Pursey, H.      296
Quackenbush, F.W.      26
Quarrell, A.G.      246 264 265 267(52)
Quarrington, J.E.      378
Quasi-hydrostatic arrangement for studying resistance      427
Quasistatic methods for anelasticity      304
Quimby, S.L.      91 299
Rachinger, W.A.      242
Radavich, J.F.      179 181
Radiation assay technique for diffusion study      369—371
Radiation damage      357—363
Radiation damage, parameters of      358
Raether, H.      261
Ramachandran, G.N.      218 243 303
Ramberg, E.G.      176 266
Ramsay, J.W.      24 27
Randall, R.F.Y.      152(64) 174
Random powder diffraction patterns      267—277
Rands, R.D., Jr.      380
Rappaport, P.      362
Rate growing      67
Rate growing with melt back      67—68
Ratio of amorphous to crystalline material      245—246
Raub, E.      152(92) 175
Rauscher, W.      296
Read, T.A.      305 313 317 320
Read, W.T.      321 323 330 338 355
Reciprocal Bragg spacing      250
Reciprocal lattice      191—194 251—254
Recrystallization (solution)      23
Redman, J.K.      318
Rees, A.L.G.      257 261 264(52) 265 266(53) 267(53) 271(53)
Reflection microscope      183
Reflection of radiation from crystallographic planes      195—197
Refraction, effect on diffraction pattern      256—257
Rehn, I.      25
Reich, R.      25 70
Reiener, J.H.      265 266(54) 271(54)
Reiss, H.      57
Relaxation effects      295—296
Reliability, statement of      1
Remeika, J.P.      99
Remelting with additions      63—64
Renninger, Von M.      218
Replica technique      177—181
Resolved shear stress of single crystal      315
Resolving power in electron diffraction      271—272
Reynolds, D.C.      113
Reynolds, S.A.      31
Rice, C.N.      26
Rice, M.H.      298 436
Richards, T.W.      28
Riddiford, A.C.      40 45
Riley, D.P.      217 222 227 245
Riley, N.A.      298 419 423
Rinehart, J.S.      300 313
Rinn, H.W.      237
Ritland, H N.      218
Roberson, A.H.      149(10) 152(10) 172
Roberts, J.P.      321
Robertson, E.C.      412 426 434
Robertson, J.M.      210 224 236
Robertson, T.S.      311 417
Robertson, W.D.      164(137) 176
Robinson, A.E.      104
Robinson, B.W.      211
Robinson, C.S.      121
Robinson, D.W.      429
Roder, H.M.      393
Roderick, R.L.      307
Rodriques, A.      25
Roehm, F.      317 321
Roeser, W.P.      389
Roesner, O.      152(72) 174
Rogers, D.      229
Rogers, W.M.      393
Rollett, J.S.      9
Ronnebeck, H.R.      224
Roscoe, R.      93 316 317
Rose, A.      22
Rose, D.J.      186
Rosenhain, W.      118
Rosenhead, L.      12 13(19)
Rosenthal, D.      401
Rosi, F.D.      317
Ross, P.A.      206
Rotating arid oscillating crystal methods      206—208
Roth, H.P.      152(96 117) 175
Roth, L.      94
Roth, W.      307
Roth, W.L.      113
Rotherham, L.A.      313
Rough polishing      see “Lapping”
Rouse, R.C.      45 71(15)
Rowland, P.R.      92 152(54) 174
Rubin, B.      71
Rubin, S.      38
Runcorn, S.K.      432
Ruska, E.      183
Russell, D.S.      25
Ruth, R.P.      116 133
Rutherford, J.L.      71
Rutter, J.W.      25 45 47 49(13) 55 71 88
Ruttmann, W.      183
Saby, J.S.      64 81
Sachs, D.C.      38
Saechs, K.      104
Sajin, N.P.      70
Salkovitz, E.      306
Samuelson, R.O.      25
Sandell, E.B.      23
Sandlimd, G.E.      307
Sato, H.      239
Satterly, J.      404
Sauter, E.      211
Sawyer, B.      59 64 88
Sawyer, R.A.      30 95
Sawyer, R.B.      396
Sayre, D.M.      234
Scaff, J.H.      58
Scanlon, W.W.      152(88) 165(88) 175
Scanning microscope      184
Scattering, Amplitude of diffracted wave train      188—189
Schaefer, V.J.      177
Schairer, J.      407
Scharowsky, E.      115
Schdanow, H.S.      242
Scheil, E.      45 55
Scherrer, P.      214
Scheuer, E.      45
Schiebold — Sauter method      211
Schiebold, E.      211
Schlechten, A.W.      27
Schlier, R.E.      154(29) 173 261(30 31) 262
Schmid, E.      117 118 149(8) 172 241 314 317 318
Schmidt, L.      204
Schmidt, P.W.      244
Schoen, A.H.      370
Schoening, F.R.L.      242
Schofield, F.H.      387 397(3)
Schomaker, V.      236 247
Schubnikow, L.      90
Schuettler, C.L.      26
Schulz, F.      308
Schulz, L.G.      241
Schwartz, C.M.      177
Schwartz, M.      81
Scott Blair, G.W.      319
Scott, E.M.      10
Scott, N.W.      127
Scott, R.B.      380 389
Scott, R.G.      179
Screw dislocations      323
Sears, G.W.      110 335
Sectioning method for diffusion study      366—368
Sedusky, H.J.      122
Seeger, A.      180 245 323
Seemann — Bohlin method      216
Seemann, H.      216 226
Segregation coefficient      see “Distribution coefficient”
Seibel, R.D.      387
Seifert, R.L.      394
Seitz, F.      329 335 344 361 376
Semiconductors, apparatus for electron irradiation of      359
Semiconductors, definition      16
Semiconductors, intrinsic      17
Semmler-Alter, E.      183
1 2 3 4 5 6 7 8
blank
Реклама
blank
blank
HR
@Mail.ru
       © Электронная библиотека попечительского совета мехмата МГУ, 2004-2024
Электронная библиотека мехмата МГУ | Valid HTML 4.01! | Valid CSS! О проекте