Развитие основных направлений современной науки и техники связано с возрастающим использованием материалов высокой чистоты. В последние годы наиболее жесткие требования к чистоте материалов
предъявляет полупроводниковая техника. Для уточнения технологии получения полупроводниковых материалов и соединений и создания надежных полупроводниковых приборов с заданными свойствами необходима разработка методов контроля содержания примесей с чувствительностью 0,00000001 – 0,000001%.
Методы определения следов примесей в веществах высокой чистоты, используемых в радиоэлектронной и полупроводниковой технике, разрабатывались в ряде институтов АН СССР и других ведомств.
Научный Совет по аналитической химии принял решение об обобщении этого обширного материала и представлении его в виде настоящего сборника.