Главная    Ex Libris    Книги    Журналы    Статьи    Серии    Каталог    Wanted    Загрузка    ХудЛит    Справка    Поиск по индексам    Поиск    Форум   
blank
Авторизация

       
blank
Поиск по указателям

blank
blank
blank
Красота
blank
Avouris P., Bhushan B. — Applied scanning probe methods 2. Scanning probe microscopy techniques
Avouris P., Bhushan B. — Applied scanning probe methods 2. Scanning probe microscopy techniques



Обсудите книгу на научном форуме



Нашли опечатку?
Выделите ее мышкой и нажмите Ctrl+Enter


Название: Applied scanning probe methods 2. Scanning probe microscopy techniques

Авторы: Avouris P., Bhushan B.

Аннотация:

Volume II includes overviews on sensor technology based on SPM probes, high
harmonic dynamic force microscopy, scanning ion conduction microscopy, spin
polarized STM, dynamic force microscopy and spectroscopy, quantitative nanomechanical
measurements in biology, scanning micro deformation microscopy, electrostatic
force and force gradient microscopy and nearfield optical microscopy. This
volume also includes a contribution on nearfield probe methods such as the scanning
focus ion beam technique which is an extremely valuable tool for nanofabrication
including scanning probes.


Язык: en

Рубрика: Наука/

Статус предметного указателя: Неизвестно

ed2k: ed2k stats

Количество страниц: 420

Добавлена в каталог: 16.03.2011

Операции: Положить на полку | Скопировать ссылку для форума | Скопировать ID
blank
Предметный указатель
blank
Реклама
blank
blank
HR
@Mail.ru
       © Электронная библиотека попечительского совета мехмата МГУ, 2004-2024
Электронная библиотека мехмата МГУ | Valid HTML 4.01! | Valid CSS! О проекте