В книге в ясной и доступной форме излагаются основы статистической физики кристаллов. В ней дано ставшее уже классическим описание статистики и кинетики электронной и фононной подсистем кристалла. Кроме того, почти половина объема книги посвящена статистике и диффузионной кинетике точечных дефектов кристаллической решетки.
Книгу отличает целевой замысел: автор последовательно отбирает именно те проблемы, при решении которых сила статистического метода проявляется наиболее отчетливо. При этом основное внимание уделяется наиболее простым моделям, позволяющим донести результат теории до числа и вскрыть физический смысл как исходных предпосылок модели, так и полученных результатов. Книга предназначена для физиков, инженеров, химиков, работающих в области физики и химии твердого тела, материаловедения и смежных дисциплинах; ее можно также рекомендовать в качестве учебного пособия студентам, изучающим теорию твердого тела.