Главная    Ex Libris    Книги    Журналы    Статьи    Серии    Каталог    Wanted    Загрузка    ХудЛит    Справка    Поиск по индексам    Поиск    Форум   
blank
Авторизация

       
blank
Поиск по указателям

blank
blank
blank
Красота
blank
Kelly J., Engelhardt M. — Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices
Kelly J., Engelhardt M. — Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices

Читать книгу
бесплатно

Скачать книгу с нашего сайта нельзя

Обсудите книгу на научном форуме



Нашли опечатку?
Выделите ее мышкой и нажмите Ctrl+Enter


Название: Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices

Авторы: Kelly J., Engelhardt M.

Аннотация:

Featuring invaluable input from industry-leading companies and highly-regarded experts in the field, this first-of-its kind resource offers experienced engineers a comprehensive understanding of the advanced topics in RF, SiP (system-in-package), and SoC (system-on-a-chip) production testing that are critical to their work involving semiconductor devices. The book covers key measurement concepts for semiconductor device testing and assists engineers in explaining these concepts to management to aid in the reduction of project cost, time, and resources. Based on real-world experience and packed with time-saving equations, this in-depth volume offers professionals practical information on essential topics that have never been presented in a single reference before.


Язык: en

Рубрика: Технология/

Статус предметного указателя: Неизвестно

ed2k: ed2k stats

Год издания: 2007

Количество страниц: 301

Добавлена в каталог: 27.02.2010

Операции: Положить на полку | Скопировать ссылку для форума | Скопировать ID
blank
Предметный указатель
blank
Реклама
blank
blank
HR
@Mail.ru
       © Электронная библиотека попечительского совета мехмата МГУ, 2004-2017
Электронная библиотека мехмата МГУ | Valid HTML 4.01! | Valid CSS! О проекте