Главная    Ex Libris    Книги    Журналы    Статьи    Серии    Каталог    Wanted    Загрузка    ХудЛит    Справка    Поиск по индексам    Поиск    Форум   
blank
Авторизация

       
blank
Поиск по указателям

blank
blank
blank
Красота
blank
Nicolici N., Al-Hashimi B.M. — Power-Constrained Testing Of Vlsi Circuits
Nicolici N., Al-Hashimi B.M. — Power-Constrained Testing Of Vlsi Circuits

Читать книгу
бесплатно

Скачать книгу с нашего сайта нельзя

Обсудите книгу на научном форуме



Нашли опечатку?
Выделите ее мышкой и нажмите Ctrl+Enter


Название: Power-Constrained Testing Of Vlsi Circuits

Авторы: Nicolici N., Al-Hashimi B.M.

Аннотация:

This book focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the very large scale integrated (VLSI) design flow. After a survey of existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits, several test automation techniques are presented for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths. Nicolici is affiliated with McMaster University, Canada. Al-Hashimi is affiliated with the University of Southampton, UK.


Язык: en

Рубрика: Технология/

Статус предметного указателя: Неизвестно

ed2k: ed2k stats

Год издания: 2007

Количество страниц: 192

Добавлена в каталог: 11.09.2009

Операции: Положить на полку | Скопировать ссылку для форума | Скопировать ID
blank
Предметный указатель
blank
Реклама
blank
blank
HR
@Mail.ru
       © Электронная библиотека попечительского совета мехмата МГУ, 2004-2019
Электронная библиотека мехмата МГУ | Valid HTML 4.01! | Valid CSS! О проекте