Главная    Ex Libris    Книги    Журналы    Статьи    Серии    Каталог    Wanted    Загрузка    ХудЛит    Справка    Поиск по индексам    Поиск    Форум   
blank
Авторизация

       
blank
Поиск по указателям

blank
blank
blank
Красота
blank
Tomitori M., Arai T. — Germanium Nanostructures on Silicon Observed by Scanning Probe Microscopy
Tomitori M., Arai T. — Germanium Nanostructures on Silicon Observed by Scanning Probe Microscopy

Читать книгу
бесплатно

Скачать книгу с нашего сайта нельзя

Обсудите книгу на научном форуме



Нашли опечатку?
Выделите ее мышкой и нажмите Ctrl+Enter


Название: Germanium Nanostructures on Silicon Observed by Scanning Probe Microscopy

Авторы: Tomitori M., Arai T.

Аннотация:

Scanning tunneling microscopy and noncontact atomic force microscopy have been
used to observe germanium growth on Si(001) and Si(111). The atomically resolved
images provide invaluable information on heteroepitaxial film growth from the viewpoints
of both industrial application and basic science.We briefly review the history of
characterizing heteroepitaxial elemental semiconductor systems by means of scanning
probe microscopy (SPM), where the Stranski–Krastanov growth mode can be observed
on the atomic scale: the detailed phase transition from layer-by-layer growth to
three-dimensional cluster growth was elucidated by the use of SPM. In addition, we
comment on the potential of SPM for examining the spectroscopic aspects of
heteroepitaxial film growth, through the use of SPM tips with well-defined facets.


Язык: en

Рубрика: Физика/

Тип: Статья

Статус предметного указателя: Неизвестно

ed2k: ed2k stats

Год издания: 2004

Количество страниц: 4

Добавлена в каталог: 10.07.2008

Операции: Положить на полку | Скопировать ссылку для форума | Скопировать ID
blank
Предметный указатель
blank
Реклама
blank
blank
HR
@Mail.ru
       © Электронная библиотека попечительского совета мехмата МГУ, 2004-2019
Электронная библиотека мехмата МГУ | Valid HTML 4.01! | Valid CSS! О проекте