Главная    Ex Libris    Книги    Журналы    Статьи    Серии    Каталог    Wanted    Загрузка    ХудЛит    Справка    Поиск по индексам    Поиск    Форум   
blank
Авторизация

       
blank
Поиск по указателям

blank
blank
blank
Красота
blank
Fewster P.F. — X-Ray Scattering from Semiconductors
Fewster P.F. — X-Ray Scattering from Semiconductors

Читать книгу
бесплатно

Скачать книгу с нашего сайта нельзя

Обсудите книгу на научном форуме



Нашли опечатку?
Выделите ее мышкой и нажмите Ctrl+Enter


Название: X-Ray Scattering from Semiconductors

Автор: Fewster P.F.

Аннотация:

Fewster (Philips Analytical Research Center, UK) discusses the X-ray scattering methods used for the structural analysis of a range of semiconductor materials, emphasizing those structural properties that influence physical properties. The text covers the basic structural characteristics of materials, the theory of X-ray scattering, the principles of the instrumentation, and a number of examples of analyses. The analysis section covers bulk semiconductor materials, nearly perfect semiconductor multi-layer structures, mosaic structures, partially relaxed multi-layer structures, laterally inhomogeneous multi-layers, textured polycrystalline semiconductors, and nearly perfect polycrystalline materials.


Язык: en

Рубрика: Физика/

Статус предметного указателя: Неизвестно

ed2k: ed2k stats

Издание: Second Edition

Год издания: 2003

Количество страниц: 299

Добавлена в каталог: 19.03.2008

Операции: Положить на полку | Скопировать ссылку для форума | Скопировать ID
blank
Предметный указатель
blank
Реклама
blank
blank
HR
@Mail.ru
       © Электронная библиотека попечительского совета мехмата МГУ, 2004-2017
Электронная библиотека мехмата МГУ | Valid HTML 4.01! | Valid CSS! О проекте