В книге в ясной и доступной форме излагаются основы статистической физики
кристаллов. В ней дано ставшее уже классическим описание статистики и
кинетики электронной и фононной подсистем кристалла. Кроме того, почти
половина объема книги посвящена статистике и диффузионной кинетике
точечных дефектов кристаллической решетки.
Книгу отличает целевой замысел: автор последовательно отбирает именно те
проблемы, при решении которых сила статистического метода проявляется
наиболее отчетливо. При этом основное внимание уделяется наиболее простым
моделям, позволяющим донести результат теории до числа и вскрыть физический
смысл как исходных предпосылок модели, так и полученных результатов.
Книга предназначена для физиков, инженеров, химиков, работающих в
области физики и химии твердого тела, материаловедения и смежных
дисциплинах; ее можно также рекомендовать в качестве учебного пособия
студентам, изучающим теорию твердого тела