Главная    Ex Libris    Книги    Журналы    Статьи    Серии    Каталог    Wanted    Загрузка    ХудЛит    Справка    Поиск по индексам    Поиск    Форум   
blank
Авторизация

       
blank
Поиск по указателям

blank
blank
blank
Красота
blank
Heyman J. — Electronics Reliability and Measurement Technology. Nondestructive Evaluation
Heyman J. — Electronics Reliability and Measurement Technology. Nondestructive Evaluation



Обсудите книгу на научном форуме



Нашли опечатку?
Выделите ее мышкой и нажмите Ctrl+Enter


Название: Electronics Reliability and Measurement Technology. Nondestructive Evaluation

Автор: Heyman J.

Аннотация:

Content:
Foreword, Page v
Preface, Pages vii-viii, Joseph A. Heyman
- Executive summary of findings and recommendations, Pages 1-6
Measurement science and manufacturing science research, Pages 7-16, D. Howard Phillips
Nondestructive SEM for surface and subsurface wafer imaging, Pages 17-33, Roy H. Propst, C. Robert Bagnell, Edward I. Cole Jr., Brian G. Davies, Frank A. DiBianca, Darryl G. Johnson, William V. Oxford, Craig A. Smith
Surface inspection-research and development, Pages 34-36, J.S. Batchelder
- Sensors developed for in-process thermal sensing and imaging, Pages 37-41, I.H. Choi, K.D. Wise
Wafer level reliability for high-performance VLSI design, Pages 42-54, Bryan J. Root, James D. Seefeldt
Wafer level reliability testing: An idea whose time has come, Pages 55-59, O.D. Trapp
Micro-focus X-ray imaging, Pages 60-67, Michael Juha
Measurement of opaque film thickness, Pages 68-78, R.L. Thomas, J. Jaarin, C. Reyes, I.C. Oppenheim, L.D. Favro, P.K. Kuo
Intelligent laser soldering inspection and process control, Pages 79-88, Riccardo Vanzetti
Rupture testing for the quality control of electrodeposited copper interconnections in high-speed, high-density circuits, Pages 89-106, Louis Zakraysek
- Heterodyne holographic interferometry: High-resolution ranging and displacement measurement, Pages 107-122, James W. Wagner
- “Whole wafer” scanning electron microscopy, Pages 123-128, J. Devaney
This page is intentionally left blank, Page 129


Язык: en

Рубрика: Разное/

Статус предметного указателя: Неизвестно

ed2k: ed2k stats

Год издания: 1988

Количество страниц: 132

Добавлена в каталог: 07.07.2017

Операции: Положить на полку | Скопировать ссылку для форума | Скопировать ID
blank
Предметный указатель
blank
Реклама
blank
blank
HR
@Mail.ru
       © Электронная библиотека попечительского совета мехмата МГУ, 2004-2024
Электронная библиотека мехмата МГУ | Valid HTML 4.01! | Valid CSS! О проекте