Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы «на-
«начальных фаз», наиболее существенные приложения структурных ис-
исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных
методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографиче-
ского. Во втором издании расширены ключевые разделы современного
реитгеноструктуриого анализа: кинематические схемы дифрактомеров,
основы статистического определения начальных фаз (знаков) структур-
структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном
пространстве по прецизионным данным.
Предназначается для студентов химических специальностей уни-
университетов.