Главная    Ex Libris    Книги    Журналы    Статьи    Серии    Каталог    Wanted    Загрузка    ХудЛит    Справка    Поиск по индексам    Поиск    Форум   
blank
Авторизация

       
blank
Поиск по указателям

blank
blank
blank
Красота
blank
Egerton R. — Physical Principles of Electron Microscopy. An Introduction to TEM SEM and AEM
Egerton R. — Physical Principles of Electron Microscopy. An Introduction to TEM SEM and AEM

Читать книгу
бесплатно

Скачать книгу с нашего сайта нельзя

Обсудите книгу на научном форуме



Нашли опечатку?
Выделите ее мышкой и нажмите Ctrl+Enter


Название: Physical Principles of Electron Microscopy. An Introduction to TEM SEM and AEM

Автор: Egerton R.

Аннотация:

Scanning and stationary-beam electron microscopes have become an indispensable tool for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology, and the biological and medical sciences. Physical Principles of Electron Microscopy provides an introduction to the theory and current practice of electron microscopy for undergraduate students who want to acquire an appreciation of how basic principles of physics are utilized in an important area of applied science, and for graduate students and technologists who make use of electron microscopes. At the same time, this book will be equally valuable for university teachers and researchers who need a concise supplemental text that deals with the basic principles of microscopy.



Язык: en

Рубрика: Технология/

Статус предметного указателя: Неизвестно

ed2k: ed2k stats

Год издания: 2008

Количество страниц: 211

Добавлена в каталог: 16.11.2014

Операции: Положить на полку | Скопировать ссылку для форума | Скопировать ID
blank
Предметный указатель
blank
Реклама
blank
blank
HR
@Mail.ru
       © Электронная библиотека попечительского совета мехмата МГУ, 2004-2017
Электронная библиотека мехмата МГУ | Valid HTML 4.01! | Valid CSS! О проекте