Авторы излагают методы выявления потенциально ненадежных элементов радиоэлектронной аппаратуры микроэлектронного исполнения, приводят эффективные инженерные методики отбраковки ненадежных интегральных микросхем, печатных плат и паяных соединений. Дается описание современных приборов для оперативного контроля радиоэлектронной аппаратуры в условиях производства.
Для ИТР, занимающихся разработкой, производством и эксплуатацией радиоэлектронной аппаратуры.