Главная    Ex Libris    Книги    Журналы    Статьи    Серии    Каталог    Wanted    Загрузка    ХудЛит    Справка    Поиск по индексам    Поиск    Форум   
blank
Авторизация

       
blank
Поиск по указателям

blank
blank
blank
Красота
blank
Marques J., Blanca N., Pina P. — Pattern Recognition and Image Analysis: Second Iberian Conference, IbPRIA 2005, Estoril, Portugal, June 7-9, 2005, Proceedings, Part 1
Marques J., Blanca N., Pina P. — Pattern Recognition and Image Analysis: Second Iberian Conference, IbPRIA 2005, Estoril, Portugal, June 7-9, 2005, Proceedings, Part 1



Обсудите книгу на научном форуме



Нашли опечатку?
Выделите ее мышкой и нажмите Ctrl+Enter


Название: Pattern Recognition and Image Analysis: Second Iberian Conference, IbPRIA 2005, Estoril, Portugal, June 7-9, 2005, Proceedings, Part 1

Авторы: Marques J., Blanca N., Pina P.

Аннотация:

The two-volume set LNCS 3522 and 3523 constitutes the refereed proceedings of the Second Iberian Conference on Pattern Recognition and Image Analysis, IbPRIA 2005, held in Estoril, Portugal in June 2005.

The 170 revised full papers presented were carefully reviewed and selected from 292 submissions. The papers are organized in topical sections on computer vision, shape and matching, image and video processing, image and video coding, face recognition, human activity analysis, surveillance, robotics, hardware architectures, statistical pattern recognition, syntactical pattern recognition, image analysis, document analysis, bioinformatics, medical imaging, biometrics, speech recognition, natural language analysis, and applications.



Язык: en

Статус предметного указателя: Неизвестно

ed2k: ed2k stats

Год издания: 2005

Количество страниц: 707

Добавлена в каталог: 14.03.2014

Операции: Положить на полку | Скопировать ссылку для форума | Скопировать ID
blank
Предметный указатель
blank
Реклама
blank
blank
HR
@Mail.ru
       © Электронная библиотека попечительского совета мехмата МГУ, 2004-2024
Электронная библиотека мехмата МГУ | Valid HTML 4.01! | Valid CSS! О проекте