Нашли опечатку? Выделите ее мышкой и нажмите Ctrl+Enter
Название: Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
Авторы: Брандон Д., Каплан У.
Аннотация:
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования и материаловедения.
Описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров, студентов.
(реклама в файл не вставлена, поэтому страниц не 384, а 377)