Книга посвящена анализу различных шумовых характеристик биполярных транзисторов в диапазоне звуковых частот, оценке конкретных источников шума, наблюдаемых в современных транзисторах, прежде всего кремниевых пленарных, определению условий оптимизации собственных шумов транзисторов в различных случаях, в том числе и при изменении температуры и воздействии радиации. Подробно рассмотрены зависимости коэффициента шума от сопротивления источника сигнала, режима смещения транзистора, частоты. Обсуждаются особенности кремниевых пленарных транзисторов и их характеристики в области малых смещений. Рассмотрен ряд вопросов, связанных с оценкой качества биполярных транзисторов по их низкочастотным шумам. Книга рассчитана на широкий круг инженерно-технических работников, занимающихся разработкой транзисторной аппаратуры, и специалистов в области разработки и производства транзисторов.