Исследование поверхности до сих пор представляет большой интерес для многих областей науки. В том числе для нелинейной оптики. Информативный нелинейно-оптический сигнал с поверхности обычно настолько слаб, что его трудно надёжно регистрировать даже современными методами. Поэтому для исследования поверхностей, тонких плёнок или малых количеств вещества нелинейно-оптическими методами необходимо использовать электромагнитное поле большой интенсивности (по величине сравнимое с внутриатомным полем), но не разрушать при этом объект исследования.