В данной лабораторной работе рассматриваются физические принципы работы сканирующего атомного силового микроскопа в неконтактном режиме и методика исследования топографии поверхности твердых тел в нанометровом масштабе методом неконтактной атомно-силовой микроскопии. Предназначено для студентов старших курсов и магистратуры физического факультета, обучающихся по специальностям "Микроэлектроника и полупроводниковые приборы" и "Физика полупроводников. Микроэлектроника", направление специализации - "Физика твердотельных наноструктур". Пособие подготовлено в рамках работ по проекту "Научно-образовательный центр Физика твердотельных наноструктур Нижегородского государственного университета им. Н.И.Лобачевского" Российско-американской программы "Фундаментальные исследования и высшее образование".