В лабораторной работе рассматриваются принципы работы сканирующего туннельного микроскопа и методика исследования топографии и туннельной спектроскопии поверхности твердых тел. Предназначена для студентов специализации ''Физика твердотельных наноструктур'', обучающихся по специальности 200.200 ''Микроэлектроника и полупроводниковые приборы''. Описание лабораторной работы подготовлено в Научно-образовательном центре сканирующей зондовой микроскопии ННГУ в рамках совместной Российско-американской программы ''Фундаментальные исследования и высшее образование''.